纳诺半导体设备贸易(上海)有限公司

　　Nanometrics Incorporated(NASDAQ:NANO)创立于1975年，总部位于美国加州 Milpitas，在全球范围内提供高性能的过程控制计量和检测系统，用于集成电路、传感器、分立元件、高亮度发光二极管和数据存储设备的制造。
Nanometrics主要在美国、日本、韩国和国际上提供积体电路、高亮度LED、分离式元件及资料储存装置等制造中使用的高性能工序控制测量和检测系统。
Nanometrics公司提供自动测量系统，用于计量光学关键尺寸(OCD)量测、薄膜测量以及晶圆应力在电晶体及交互运作下的测量应用和Lynx平台，能使集群计量工厂自动化可应用于晶圆计量。如光学关键尺寸的测量和薄膜工序的控制。此外，公司的自动和整合系统还用于多种工序控制上，包括尺寸和薄膜厚度测量、地型测量装置、缺陷检测和覆盖登记，以及用于薄膜其他各种性质分析上，如其光学，电学及材料等。
Nanometrics工序控制解决方案部署于生产工序上，从前端的基板制造到大批量的半导体和其他装置的生产，以及到晶圆级封装的应用工序皆有之。
Nanometrics公司直接或透过代工厂商管道，销售其测量和检测系统予半导体制造商和设备供应商，以及高亮度的LED、太阳能光伏、资料储存装置、矽晶圆和光罩等制造商。