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1.TEM样品制备前处理,样品定位及护层制备等;2.使用FIB制备TEM样品,各种膜层及器件结构的截面及平面TEM制备以及失效定位TEM样品制备;3.TEM制备技术开发,针对新结构,材料及新器件TEM制备技术的开发。查看更多
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柳女士
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胜科纳米(苏州)股份有限公司2012年成立于苏州工业园区,主要从事半导体第三方检测分析服务,致力于打造专业高效的一站式检测分析平台,为半导体产业链客户提供失效分析、材料分析、可靠性分析等检测分析服务。公司通过专业精准的检测分析服务,判断客户产品设计或工艺中的缺陷,助力客户提升产品良率与性能,成为半导体领域研发制造和品质监控的关键技术支撑平台,承担辅助客户研发的重要角色。凭借多元化的检测分析项目与专业精准的诊断能力,公司被形象地喻为芯片全科医院。查看更多
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